제품과 서비스

SSELF™ : 제품 테스트 자동화 솔루션

SSELF

 제품 테스트 자동화 솔루션

 SSELF™는 컴퓨터 비전 기술과 제조업이 컨버전스 된 신기술로써, 현재 멀티미디어 출력기기에 대하여 제품 출하 전 검수단계에서 제품의 소프트웨어/하드웨어적인 불량 여부를 자동적으로 테스트할 수 있습니다.
 또한 기존에 엔지니어에 의해 수동적으로 이루어지고 있는 웨이퍼/회로 불량 검출을 자동으로 처리할 수 있으며 스캐너를 통하여 영상에 대한 오브젝트 추출을 자동화하여 추출된 오브젝트의 길이/두께/면적 등의 수치를 자동화 할 수 있습니다.

• SSELF 도입 효과

 - 장기적인 품질 만족도 향상 및 브랜드 가치 제고
 - 대내외적 고객 신뢰성 확대 및 기업 이미지 상승
 - 안정된 품질 보장으로 시장 장악력 극대화
신제품개발:QA테스트 및 QC프로세스를 효율적으로 수행하여 브랜드 이미지 강화에 기여 // 비용절감:발생하는 불량을 완벽하게 제어하여 불필요한 A/S 비용 절감 // 생산 : 동일한 테스트 및 객관성을 바탕으로 균일한 품질의 제품 출하 // 기술적 성과:기존 테스트 공정의 수동성을 탈피하여 자동화 및 객관성 보장,테스트 공정의 자동화 및 규격화를 통한 효율성 증대 // 경제적 성과:기존 테스트 공정에 소요되는 시간 및 소요 비용을 획기적으로 감소,고품질의 신뢰도 보장을 통한 시장 경쟁력 확보,짧은 제품 개발 주기를 반영한 품질 보장

제공 서비스

• SSELF for Display Device

영상불량검출- 불량 검출 최소 단위 : 23mm * 23mm (32inch TV 기준), False Detection Rate : 1/100,000 Frame (2시간 40분 playing 시 1개 Fault 발생)  // 음향불량검출- 불량 검출 최소 단위 : 500ms 단위, False Detection Rate : 1/10,000 PCM (2시간 40분 playing 시 1개 Fault 발생)  - DTV를 비롯한 DVD, BD, STB 등의 사용자 환경과 동일한 조건에서 테스트
 - 해당 검사 결과에 대한 실시간 리포팅
 - 시장과 동일한 테스트 환경 구성
 - 24시간 이상 장시간 시청 중 간헐적으로 발생하는 순간 불량에 대해 False Rate 오차 범위 내에서 판단

• SSELF for Semiconductor

웨이퍼/회로도→영상획득→검출영역설정→SSELF for Semiconductor→에러그룹맵/에러그리드맵/여러영역추출  - 사용자 설정에 따른 유연한 테스트
 - 그리드별, 그룹별 다양한 에러 형태 출력
 - 웨이퍼/회로도 필터링 툴 제공으로 인한 특정 영역 선별 검출 지원
 - 객관적인 검사결과 도출
 - 제품 구성군 : 웨이퍼 / 회로도 필터링 application, 웨이퍼 / 회로도 불량 검출 libray 또는 application

• SSELF for Object

Real Object→Scanner→2D Object→Object Detection→  - 스캐너를 통해 획득한 영상에 대한 오브젝트(object) 자동 추출
 - 추출된 오브젝트에 대한 길이/두께/면적 등의 수치 측정 자동화
 - 솔루션 응용 분야에 따른 다양한 설정 적용에 따른 유연한 테스트 가능
 - 객체 추출의 객관성 확보
 - 생산된 제품에 대한 규격 검증 테스트 가능
COPYRIGHT©2015 CK&B. ALL RIGHTS RESERVED.